A、CR>CS>CL
B、CS>CL>CR
C、CL>CS>CR
D、以上都不對(duì)
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A、機(jī)械振動(dòng)中質(zhì)點(diǎn)的速度
B、機(jī)械振動(dòng)中質(zhì)點(diǎn)的振幅
C、機(jī)械振動(dòng)中質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)頻率
D、彈性介質(zhì)的特性
A、阻尼使振動(dòng)物體的能量逐漸減小
B、阻尼使振動(dòng)物體的振幅逐漸減小
C、阻尼使振動(dòng)物體的運(yùn)動(dòng)速率逐漸減小
D、阻尼使振動(dòng)周期逐漸變長
A、諧振動(dòng)就是質(zhì)點(diǎn)在作勻速圓周運(yùn)動(dòng)
B、任何復(fù)雜振動(dòng)都可視為多個(gè)諧振動(dòng)的合成
C、在諧振動(dòng)動(dòng)中，質(zhì)點(diǎn)在位移最大處受力最大，速度為零
D、在諧振動(dòng)動(dòng)中，質(zhì)點(diǎn)在平衡位置速度大，受力為零
最新試題
實(shí)際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
（）可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長距離檢測。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷進(jìn)行（）。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。