單項選擇題為減少凹面探傷時的耦合損耗，通常采用以下方法：（）
A.使用高聲阻抗耦合劑
B.使用軟保護膜探頭
C.使用較低頻率和減少探頭耦合面尺寸
D.以上都可以
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1.單項選擇題被檢工件晶粒粗大，通常會引起：（）
A.草狀回波增多
B.信噪比下降
C.底波次數(shù)減少
D.以上全部
2.單項選擇題影響直接接觸法耦合損耗的原因有：（）
A.耦合層厚度，超聲波在耦合介質中的波長及耦合介質聲阻抗
B.探頭接觸面介質聲阻抗
C.工件被探測面材料聲阻抗
D.以上都對
3.單項選擇題在脈沖反射法探傷中可根據什么判斷缺陷的存在？（）
A.缺陷回波
B.底波或參考回波的減弱或消失
C.接收探頭接收到的能量的減弱
D.AB都對
4.單項選擇題厚度均為400mm，但材質衰減不同的兩個鍛件，采用各自底面校正400/Φ2靈敏度進行分別探測，現(xiàn)兩個鍛件中均發(fā)現(xiàn)缺陷，且回波高度和缺陷聲程均相同，則：（）
A.兩個缺陷當量相同
B.材質衰減大的鍛件中缺陷當量小
C.材質衰減小的鍛件中缺陷當量小
D.以上都不對
5.單項選擇題直探頭探測厚100mm和400mm的兩平底面鍛件，若后者探測面粗糙，與前者耦合差為5db，材質衰減均為0.01Db/mm（雙程），今將前者底面回波調至滿幅（100%）高，則后者的底面回波應是滿幅度的：（）
A.40％
B.20％
C.10%
D.5％
最新試題
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
題型：單項選擇題
單探頭法容易檢出（）。
題型：單項選擇題
利用底波計算法進行靈敏度校準時，適用的工件厚度為（）。
題型：單項選擇題
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。
題型：單項選擇題
利用底波計算法校準靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。
題型：單項選擇題
當調節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質衰減不同時，需要進行傳輸修正。
題型：單項選擇題
（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
題型：單項選擇題
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。
題型：單項選擇題
超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
題型：單項選擇題
實際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當提高，這種在檢測靈敏度基礎上適當提高后的靈敏度叫做（）。
題型：單項選擇題