A.宜采用較高頻率,一般為5MHZ
B.宜采用大角度斜探頭,其中β=70°探頭較好
C.宜采用粘度大的耦合劑,如黃油
D.一般以橫波斜探頭從主管探測(cè)為主,支管探測(cè)為輔
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A.縱波斜探頭
B.橫波斜探頭
C.表面波探頭
D.縱波直探頭
A.用45°斜探頭探出
B.用直探頭探出
C.用任何探頭探出
D.反射訊號(hào)很小而導(dǎo)致漏檢
A.保持靈敏度不變
B.適當(dāng)提高靈敏度
C.增加大K值探頭探測(cè)
D.以上B和C
A.增大
B.減小
C.不變
D.以上A和B
A.斜平行掃查
B.串列掃查
C.雙晶斜探頭前后掃查
D.交叉掃查
最新試題
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。