A.陰極射線管;
B.模擬量表;
C.圖表記錄儀;
D.數(shù)字伏特計(jì).
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.放大裂紋或其它缺陷信號;
B.減少信噪比;
C.消除試樣電導(dǎo)率和磁導(dǎo)率少量不規(guī)則變化的影響;
D.從磁導(dǎo)率變化中分離出電導(dǎo)率變化.
A.二次電磁場與一次電磁場同相;
B.二次電磁場與一次電磁場相位差90°;
C.兩個電磁場分量之間的相位角總是大于90°,因而使一次電磁場部分抵消;
D.二次電磁場與一次電磁場相位差180°,因此產(chǎn)生一個大的相位移
A.垂直信號是經(jīng)解調(diào)的,而水平信號不是;
B.垂直信號和水平信號頻率相同;
C.垂直信號和水平信號相位總是相同的;
D.以上都不是。
A.圍繞線圈;
B.內(nèi)部探頭線圈;
C.表面探頭線圈;
D.A和B
A.穿過兩個線圈的磁通量差不多相同;
B.來自任一線圈的信號均可用來提供關(guān)于試樣的信息;
C.這種排列對小缺陷不靈敏;
D.以上都是;
E.A和B
最新試題
點(diǎn)焊未熔合、脫焊等面狀缺陷最有效的檢測方法是X射線檢測。
像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。
X射線檢驗(yàn)人員負(fù)責(zé)對需排除的超標(biāo)缺陷實(shí)施定位、做好相應(yīng)標(biāo)注,確保定位準(zhǔn)確。
對于厚度變化較大的變截面工件透照,只要底片黑度符合GJB1187A的要求時,就可采用多膠片技術(shù)。
超差缺陷是否排除,由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請、檢驗(yàn)蓋章認(rèn)可后送X光檢測。
缺陷分類應(yīng)符合驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)的要求,標(biāo)準(zhǔn)未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗(yàn)范疇的缺陷,必要時可予以注明供有關(guān)人員參考,但不作為合格與否判定的依據(jù)。
航天無損檢測人員的資格分為三個等級:Ⅰ級為初級,Ⅱ級為中級,Ⅲ級為高級。其中Ⅱ級人員應(yīng)具備的能力有()。
檢測申請時工序狀態(tài)應(yīng)清楚、工序質(zhì)量應(yīng)符合工序質(zhì)量要求,檢驗(yàn)蓋章確認(rèn),確保焊接、檢驗(yàn)、檢測等全過程具有可追溯性。
探傷人員在透視間內(nèi)發(fā)現(xiàn)輻射正在進(jìn)行應(yīng)立即()。
X光檢驗(yàn)組按復(fù)查清單組織復(fù)查,并出具X光底片復(fù)查報告,復(fù)查無遺留問題方可進(jìn)行試壓。