單項(xiàng)選擇題調(diào)制分析中,常用的顯示類型是().

A.陰極射線管;
B.模擬量表;
C.圖表記錄儀;
D.數(shù)字伏特計(jì).


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1.單項(xiàng)選擇題調(diào)制系統(tǒng)中,濾波器用來().

A.放大裂紋或其它缺陷信號;
B.減少信噪比;
C.消除試樣電導(dǎo)率和磁導(dǎo)率少量不規(guī)則變化的影響;
D.從磁導(dǎo)率變化中分離出電導(dǎo)率變化.

2.單項(xiàng)選擇題在線圈的電磁場中放一個導(dǎo)電物體會減小感抗分量。其原因是().

A.二次電磁場與一次電磁場同相;
B.二次電磁場與一次電磁場相位差90°;
C.兩個電磁場分量之間的相位角總是大于90°,因而使一次電磁場部分抵消;
D.二次電磁場與一次電磁場相位差180°,因此產(chǎn)生一個大的相位移

3.單項(xiàng)選擇題使用具有橢圓顯示裝置的檢驗(yàn)系統(tǒng)時,施加在示波器垂直輸入器垂直輸入端的信號與施加在水平輸入端的信號的關(guān)系如下().

A.垂直信號是經(jīng)解調(diào)的,而水平信號不是;
B.垂直信號和水平信號頻率相同;
C.垂直信號和水平信號相位總是相同的;
D.以上都不是。

4.單項(xiàng)選擇題下列哪種試驗(yàn)線圈系統(tǒng)檢測管材的小缺陷最好?()

A.圍繞線圈;
B.內(nèi)部探頭線圈;
C.表面探頭線圈;
D.A和B

5.單項(xiàng)選擇題在一個渦流線圈系統(tǒng)中,當(dāng)傳感線圈放于激勵線圈附近時,會發(fā)生下面哪一種情況?()

A.穿過兩個線圈的磁通量差不多相同;
B.來自任一線圈的信號均可用來提供關(guān)于試樣的信息;
C.這種排列對小缺陷不靈敏;
D.以上都是;
E.A和B

最新試題

點(diǎn)焊未熔合、脫焊等面狀缺陷最有效的檢測方法是X射線檢測。

題型:判斷題

像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。

題型:判斷題

X射線檢驗(yàn)人員負(fù)責(zé)對需排除的超標(biāo)缺陷實(shí)施定位、做好相應(yīng)標(biāo)注,確保定位準(zhǔn)確。

題型:判斷題

對于厚度變化較大的變截面工件透照,只要底片黑度符合GJB1187A的要求時,就可采用多膠片技術(shù)。

題型:判斷題

超差缺陷是否排除,由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請、檢驗(yàn)蓋章認(rèn)可后送X光檢測。

題型:判斷題

缺陷分類應(yīng)符合驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)的要求,標(biāo)準(zhǔn)未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗(yàn)范疇的缺陷,必要時可予以注明供有關(guān)人員參考,但不作為合格與否判定的依據(jù)。

題型:判斷題

航天無損檢測人員的資格分為三個等級:Ⅰ級為初級,Ⅱ級為中級,Ⅲ級為高級。其中Ⅱ級人員應(yīng)具備的能力有()。

題型:單項(xiàng)選擇題

檢測申請時工序狀態(tài)應(yīng)清楚、工序質(zhì)量應(yīng)符合工序質(zhì)量要求,檢驗(yàn)蓋章確認(rèn),確保焊接、檢驗(yàn)、檢測等全過程具有可追溯性。

題型:判斷題

探傷人員在透視間內(nèi)發(fā)現(xiàn)輻射正在進(jìn)行應(yīng)立即()。

題型:單項(xiàng)選擇題

X光檢驗(yàn)組按復(fù)查清單組織復(fù)查,并出具X光底片復(fù)查報告,復(fù)查無遺留問題方可進(jìn)行試壓。

題型:判斷題