A.線圈長度;
B.要求達到的缺陷尺寸分辯力;
C.試驗頻率;
D.以上都是.
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A.為了檢查相位選擇性;
B.為了保證材料位于試驗線圈中心;
C.為了選擇調制分析的調節(jié)值;
D.為了選擇正確的試驗速度
A.溫度變化;
B.試樣中的裂紋;
C.試驗物體與試驗線圈接觸;
D.試驗線圈磁場中的外來物體;
E.試驗線圈振動.
A.相位變化;
B.頻率變化;
C.增大提離會使缺陷視在寬度減??;
D.以上都不是.
A.IR;
B.材料厚度;
C.線圈直徑;
D.試樣溫度.
A.接近相同的信號;
B.0°到90°的相位移;
C.沒有電關系的信號;
D.90°到110°相位移.
最新試題
檢測申請時工序狀態(tài)應清楚、工序質量應符合工序質量要求,檢驗蓋章確認,確保焊接、檢驗、檢測等全過程具有可追溯性。
底片或電子圖片、X射線照相檢驗記錄、射線檢測報告副本、檢測報告等及臺帳由X光透視人員負責管理。
X射線探傷室應建立健全輻射安全管理制度及應急預案。
探傷人員在透視間內發(fā)現(xiàn)輻射正在進行應立即()。
產(chǎn)品焊接接頭最終質量經(jīng)X射線檢驗合格后不得再實施影響接頭性能的加工(如校形、修刮、重熔等),否則應重新申請進行X射線檢測。
像質計放置次數(shù)一般應與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時可適當減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。
對于圓柱導體的外通過式線圈,其阻抗變大的情況有()
點焊未熔合、脫焊等面狀缺陷最有效的檢測方法是X射線檢測。
觀察底片時,為能識別缺陷圖像,缺陷圖像對比度與圖像噪聲之比應不小于識別閾值。
超差缺陷是否排除,由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請、檢驗蓋章認可后送X光檢測。