A.橫波端角反射法適于測量上表面開口缺陷
B.用串列式雙探頭法測量缺陷下端點時存在死區(qū)
C.用端點衍射法可以方便地精確測定缺陷自身高度
D.6dB法測量精度高，但操作困難
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A.為了使主聲束垂直于缺陷，一般采用K2探頭
B.采用K1斜探頭
C.對上端點距表面距離小于5mm的缺陷，測量誤差小
D.采用點聚焦探頭可以提高測試精度
A.用45°斜探頭探出
B.用直探頭探出
C.用任何探頭探出
D.因反射信號很小而導(dǎo)致漏檢
A.遠(yuǎn)場效應(yīng)
B.受分辨力影響
C.盲區(qū)
D.受反射波影響
A.底面回波
B.底面二次回波
C.缺陷回波
D.遲到波
A.底面回波降低或消失
B.底面回波正常
C.底面回波變寬
D.底面回波變窄
最新試題
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時，在第一次底波之后，還有2個特定位置的反射波，這種波是（）。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
利用底波計算法校準(zhǔn)靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。
超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點，說法錯誤的是（）。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射，這種波是（）。