A.頻帶越寬，脈沖越寬，則分辨力高，靈敏度低
B.頻帶越寬，脈沖越寬，則分辨力低，靈敏度高
C.頻帶越寬，脈沖越窄，則分辨力低，靈敏度高
D.頻帶越寬，脈沖越窄，則分辨力高，靈敏度低
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A.減小盲區(qū)
B.使聲能集中在某一區(qū)域
C.提高信噪比
D.以上都是
A.提高近表面缺陷的探測能力
B.精確測量缺陷的尺寸
C.擴(kuò)大掃查面積
D.增加探測深度
A.提高局部區(qū)域的檢測靈敏度
B.提高信噪比
C.提高局部區(qū)域的橫向分辨力
D.以上都是
A.提高檢測靈敏度
B.提高信噪比
C.提高近表面檢測能力
D.以上都是
A.槽口
B.平底孔
C.橫孔
D.以上都是
最新試題
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。
在對缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
單探頭法容易檢出（）。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。