A.序列一個(gè)周期的時(shí)間
B.序列中翻轉(zhuǎn)時(shí)間
C.序列中回波間隔時(shí)間
D.序列總時(shí)間
E.一個(gè)回波產(chǎn)生所需時(shí)間
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A.序列一個(gè)周期的時(shí)間
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C.序列中回波間隔時(shí)間
D.序列總時(shí)間
E.一個(gè)回波產(chǎn)生所需時(shí)間
A.序列一個(gè)周期的時(shí)間
B.序列中翻轉(zhuǎn)時(shí)間
C.序列中回波間隔時(shí)間
D.序列總時(shí)間
E.一個(gè)回波產(chǎn)生所需時(shí)間
A.FID序列
B.自旋回波序列
C.梯度回波序列
D.回波平面序列
E.梯度回波平面序列
A.FID序列
B.自旋回波序列
C.梯度回波序列
D.回波平面序列
E.梯度回波平面序列
A.氫質(zhì)子密度
B.橫向弛豫
C.縱向弛豫
D.合磁矢量
E.靜磁矢量
T1WI主要反映組織的____差別()
A.氫質(zhì)子密度
B.橫向弛豫
C.縱向弛豫
D.合磁矢量
E.靜磁矢量
A.氫質(zhì)子密度
B.橫向弛豫
C.縱向弛豫
D.合磁矢量
E.靜磁矢量
在自旋回波序列中如何實(shí)現(xiàn)T2WI()
A.長TR(1500~2500ms)短TE(15~25ms)
B.長TR(1500~2500ms)長TE(90~120ms)
C.短TR(300~600ms)短TE(15~25ms)
D.短TR(15~25ms)長TE(1500~2500ms)
E.短TR(300~600ms)短TE(25~35ms)
A.長TR(1500~2500ms)短TE(15~25ms)
B.長TR(1500~2500ms)長TE(90~120ms)
C.短TR(300~600ms)短TE(15~25ms)
D.短TR(15~25ms)長TE(1500~2500ms)
E.短TR(300~600ms)短TE(25~35ms)
A.長TR(1500~2500ms)短TE(15~25ms)
B.長TR(1500~2500ms)長TE(90~120ms)
C.短TR(300~600ms)短TE(15~25ms)
D.短TR(15~25ms)長TE(1500~2500ms)
E.短TR(300~600ms)短TE(25~35ms)
最新試題
下列選項(xiàng)中,哪項(xiàng)不是影響信噪比的因素()
T2WI主要反映組織的差別()
T*2小于T2的原因是()
關(guān)于T 1WI下列敘述錯(cuò)誤的是()
MRI組織參數(shù),不包括()
關(guān)于T1WI下列敘述錯(cuò)誤的是()
飛躍時(shí)間法(TOF)MRA成像利用()
下列哪項(xiàng)是MRI檢查的缺點(diǎn)()
T1WI主要反映組織的差別()
關(guān)于PDWI敘述錯(cuò)誤的是()