A.總體中的每個(gè)個(gè)體被抽到的機(jī)會(huì)是相同的
B.抽樣誤差小
C.抽樣手續(xù)比較繁雜
D.樣本的代表性比較好
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A.可以
B.不可以
C.無(wú)法判斷
D.需重新檢驗(yàn)
A.系統(tǒng)抽樣法
B.簡(jiǎn)單隨機(jī)抽樣法
C.整群抽樣法
D.分層抽樣法
A.樣本的代表性比較好,抽樣誤差比較小
B.抽樣實(shí)施方便
C.抽樣誤差小
D.抽樣手續(xù)繁雜
A.99.261%
B.0.7397%
C.0.2603%
D.99.7397%
A.平均檢出質(zhì)量
B.批不合格品率
C.接受質(zhì)量限
D.極限質(zhì)量
最新試題
在對(duì)鑄件進(jìn)行檢驗(yàn)時(shí),根據(jù)樣本中包含的不合格鑄件數(shù)和根據(jù)樣本中包含的不舍格砂眼數(shù)判斷產(chǎn)品批是否接收的判定方式屬于()檢驗(yàn)。
某電子產(chǎn)品經(jīng)檢驗(yàn)后才能出廠,其合格率應(yīng)不小于95%?,F(xiàn)隨機(jī)抽取100個(gè)檢驗(yàn),發(fā)現(xiàn)有7個(gè)不合格品,問(wèn)該批產(chǎn)品能否出廠()。(取α=0.05)
利用一次抽樣方案(80,0)對(duì)某工序生產(chǎn)的產(chǎn)品進(jìn)行連續(xù)驗(yàn)收,并記錄了每批產(chǎn)品樣本中出現(xiàn)的不合格品數(shù),利用多批檢驗(yàn)記錄可以用來(lái)()。
在對(duì)進(jìn)行鑄件檢驗(yàn)時(shí),根據(jù)樣本中包含的不合格的砂眼數(shù)判斷產(chǎn)品批是否被接受的判定方式屬于()檢驗(yàn)。
分層抽樣法的優(yōu)點(diǎn)是()。
當(dāng)使用方在采購(gòu)產(chǎn)品時(shí),對(duì)交檢批提出的質(zhì)量要求為Pt=1%,則有()。
計(jì)數(shù)標(biāo)準(zhǔn)型抽樣檢驗(yàn)中,確定抽檢方案的基本要素是p0,p1,關(guān)于p0,p1值(p0
GB/Tl3262--2008是以批不合格品率為質(zhì)量指標(biāo)的計(jì)數(shù)標(biāo)準(zhǔn)型一次抽樣檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。
企業(yè)從供應(yīng)商處采購(gòu)的一批元器件是在不同的月份生產(chǎn)的,驗(yàn)收該批產(chǎn)品時(shí)最適宜的抽樣方法()。
評(píng)價(jià)抽樣方案經(jīng)濟(jì)性的指標(biāo)有( ?。?。