單項選擇題以下有關雙晶片探頭（聯(lián)合雙探頭）的描述，哪個是正確的（）
A.存在聲能集中區(qū)
B.下盲區(qū)小
C.掃查時，隔聲層應盡量與缺陷方向垂直
D.以上都是
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1.單項選擇題沿試塊上表面?zhèn)鞑サ谋砻娌▽l(fā)生以下哪種情況（）
A.在尖銳的邊緣拐角發(fā)生繞射
B.在尖銳的邊緣拐角發(fā)生反射
C.被尖銳的邊緣拐角吸收
D.以上都可能發(fā)生
2.單項選擇題考慮傳輸修正的理由是（）
A.被檢工件太厚
B.工件底面與探測面不平行
C.工件與試塊材質或表面光潔度有差異
D.以上都是
3.單項選擇題以下有關利用底波高度法評定缺陷的描述，哪個是正確的（）
A.可利用缺陷的陰影效果進行評價
B.可不考慮傳輸修正
C.常用于對缺陷定量不嚴格的工件
D.有助于檢測因缺陷形狀等原因使反射信號減弱的大缺陷
4.單項選擇題用超聲波探傷法檢查缺陷，是通過測定下面哪種變化（）
A.超聲波的波長
B.超聲波在物質中的速度
C.超聲波的能量
D.超聲波的頻率
5.單項選擇題調整探傷靈敏度的目的是（）
A.要求檢出最小的缺陷
B.要求檢出所有部位的缺陷
C.確定合理的探傷條件
D.避免人為因素的影響
最新試題
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
題型：單項選擇題
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
題型：單項選擇題
關于液浸法的優(yōu)點，說法錯誤的是（）。
題型：單項選擇題
超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
題型：單項選擇題
（）是指在確定的聲程范圍內檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術要求或有關標準來確定。
題型：單項選擇題
底波計算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進行靈敏度校準。
題型：單項選擇題
（）是影響缺陷定量的因素。
題型：單項選擇題
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設備及波的形式有關。
題型：單項選擇題
當調節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質衰減不同時，需要進行傳輸修正。
題型：單項選擇題
當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射，這種波是（）。
題型：單項選擇題