A.CH4
B.CH3Br
C.CH3Cl
D.CH3F
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A.由于磁的各向異性效應(yīng),使得乙烯、乙炔質(zhì)子都處在屏蔽區(qū)
B.由于磁的各向異性效應(yīng),使得乙烯、乙炔質(zhì)子都處在去屏蔽區(qū)
C、由于磁的各向異性效應(yīng),使乙烯質(zhì)子處在去屏蔽區(qū),乙快質(zhì)子處在屏蔽區(qū)
D.由于磁的各向異性效應(yīng),使乙烯質(zhì)子處在屏蔽區(qū),乙快質(zhì)子處在去屏蔽區(qū)
A.化合物中不同質(zhì)子的種類數(shù)
B.同種類H的數(shù)目
C.相鄰碳上質(zhì)子的數(shù)目
D.化合物中雙鍵的個數(shù)及位置
A.屏蔽效應(yīng)較弱,相對化學(xué)位移較大,共振峰出現(xiàn)在高場
B.屏蔽效應(yīng)較強,相對化學(xué)位移較小,共振峰出現(xiàn)在高場
C.屏蔽效應(yīng)較強,相對化學(xué)位移較大,共振峰出現(xiàn)在低場
D.屏蔽效應(yīng)較強,相對化學(xué)位移較大,共振峰出現(xiàn)在高場
A.掃頻下的高頻,掃場下的高場,化學(xué)位移δ值較小
B.掃頻下的高頻,掃場下的低場,化學(xué)位移δ值較大
C、掃頻下的低頻,掃場下的高場,化學(xué)位移δ值較大
D、掃頻下的低頻,掃場下的高場,化學(xué)位移δ值較小
A.化學(xué)位移
B.偶合常數(shù)
C.偶合裂分數(shù)
最新試題
使用CS600測定純鐵中超低碳硫含量,控制分析空白是關(guān)鍵。
鋼鐵中氫含量采用脈沖加熱熔融熱導(dǎo)法測定時,根據(jù)熱導(dǎo)池輸出電流值與氫的濃度關(guān)系,從校準曲線上得到氫含量。
脈沖加熱熔融熱導(dǎo)法測定鋼鐵中氫含量,分析前應(yīng)用有證標準物質(zhì)進行檢查和校準儀器,所用實物標準的氫含量應(yīng)略大于被分析試樣的含氫量。
ICP-AES光源分為四個區(qū)域,即()。
X射線熒光光譜玻璃熔片法采用的鉑金坩堝Pt與Au的比例一般是()。
ICP光譜儀中的等離子炬管有三種氣體通過,它們分別是()。
玻璃熔融-X熒光光譜法,采用的熔融法存在缺點是()。
紅外吸收碳硫儀中有高、低量程的紅外池,高量程的池體短,相應(yīng)紅外光程短。
原子吸收光譜儀在使用氧化亞氮火焰時,儀器應(yīng)具備防回火功能。
紅外吸收法分析碳和硫時,可以用同一個紅外池來檢測。