磁性測厚技術(shù)包括機械式和（）兩種測量方法。

缺陷檢測即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括（）、電導率、磁導率、邊條效應、提離效應等。

渦流檢測儀的阻抗幅值型儀器在顯示終端僅給出（）的相關(guān)信息。

根據(jù)檢測對象和目的的不同，渦流檢測儀器一般可分為（）、渦流電導儀和渦流測厚儀三種。

對于圓盤形試件，常沿（）在圓面上進行掃查。

缺陷愈大，所遮擋的聲束也愈多，底波波高也就愈低，這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的（）

掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束（），保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。

對于接觸法只須將能使缺陷落在其遠場區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動，即可獲得缺陷的（）所在的位置，從而定出缺陷的平面位置。

渦流檢測線圈是在被檢測導電材料或零件表面及近表面激勵產(chǎn)生（）

鋁合金電導率的渦流檢測中硬度檢驗是一種（）方法。