單項選擇題直探頭接觸法探傷時，底面回波降低或消失的原因是（）。
A、耦合不良
B、存在與聲束不垂直的缺陷
C、存在與始脈沖不能分開的近表面缺陷
D、以上都可能
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1.單項選擇題超聲探傷中所謂缺陷的指示長度，指的是（）。
A、采用當量試塊比較法測定的結果
B、對大于聲束的缺陷，采用底波對比而測得的結果
C、根據(jù)缺陷反射波高和探頭移動的距離而測得的結果
D、缺陷定量法之一，和AVG曲線的原理相同
2.單項選擇題直探頭從端部探測細棒狀工件時，在底波后面出現(xiàn)的遲到波是由于聲束射到工件側面產(chǎn)生（）所致。
A、窄脈沖
B、衰減
C、波型轉換
D、粗晶
3.單項選擇題零件的材料組織或密集的細小缺陷在熒光屏只產(chǎn)生許多小信號顯示叫做（）。
A、底面反射
B、表面反射
C、缺陷反射
D、雜波
4.單項選擇題焊縫斜角探傷時，如采用直射法，應該考慮（）等干擾回波的影響。
A、結構反射和變型波
B、板材底面回波
C、三角反射
D、以上全部
5.單項選擇題在探測工件側壁附近的缺陷時，由于存在著（），所以探傷靈敏度會明顯偏低。
A、側壁干擾
B、61°角反射波
C、工件底面不平
D、以上都對
最新試題
渦流檢測線圈感應和接收材料或零件中感生渦流的再生磁場的傳感器，它是構成（）系統(tǒng)的重要組成部分，對于檢測結果的好壞起著重要的作用。
題型：單項選擇題
渦流檢測輔助裝置的試樣傳動裝置用于形狀規(guī)則產(chǎn)品的（）
題型：單項選擇題
各類渦流檢測儀器的工作原理和（）是相同的。
題型：單項選擇題
對檢測儀的時間基線進行校正后，缺陷的埋藏深度可從熒光屏的（）上讀出。
題型：單項選擇題
掃查方式一般視試件的（）而定。
題型：單項選擇題
對于圓盤形試件，常沿（）在圓面上進行掃查。
題型：單項選擇題
缺陷檢測即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括（）、電導率、磁導率、邊條效應、提離效應等。
題型：單項選擇題
用于測量黑光強度的現(xiàn)代黑光輻射照度計，其探頭（傳感器）的光敏組件的前面有（），只適用于測量黑光。
題型：單項選擇題
渦流檢測線圈的自感式線圈由（）構成。
題型：單項選擇題
渦流檢測輔助裝置的試樣傳動裝置在（）材生產(chǎn)線上的應用最為廣泛。
題型：單項選擇題