A、產(chǎn)生射線照相底片對比度低
B、不可能檢出大缺陷
C、產(chǎn)生射線照相底片不清晰
D、產(chǎn)生發(fā)灰的射線照片
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A、35%~-60%之間
B、60%~90%之間
C、50%~75%之間
D、50%~60%之間
A、產(chǎn)生白色斑點
B、出現(xiàn)樹枝狀的輕微條痕
C、發(fā)生灰霧
D、藥膜脫落
A、平放
B、直立
C、堆放
D、任意放置
A、鉛增感屏?xí)a(chǎn)生可見光和熒光
B、鉛屏可吸收散射線
C、防止背散射造成膠片灰霧
D、鉛屏受X射線和γ射線照射會發(fā)生二次電子
A、較黑斑塊顯示
B、較白斑塊顯示
C、無顯示
D、以上任何一種
最新試題
隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展,出現(xiàn)了多種型號的同時具備探傷、電導(dǎo)率測量()測量功能的通用型儀器。
當(dāng)波束中心線與缺陷面()且回波最()時,移動探頭使波束中心(),回波高度當(dāng)隨之下降。
對檢測儀的時間基線進行校正后,缺陷的埋藏深度可從熒光屏的()上讀出。
對于圓盤形試件,常沿()在圓面上進行掃查。
渦流檢測儀的阻抗幅值型儀器在顯示終端僅給出()的相關(guān)信息。
對于長條形試件,則常沿()作平行縱軸的直線式掃查。
在遠場區(qū),當(dāng)缺陷比聲束截面小時,缺陷波高與缺陷面積成()
對于接觸法只須將能使缺陷落在其遠場區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動,即可獲得缺陷的()所在的位置,從而定出缺陷的平面位置。
根據(jù)檢測對象和目的的不同,渦流檢測儀器一般可分為()、渦流電導(dǎo)儀和渦流測厚儀三種。
渦流檢測線圈的互感線圈一般由()構(gòu)成。