單項(xiàng)選擇題鈷60發(fā)射路徑上遇一1/2時(shí)厚鉛塊,劑量率會(huì)降低()。

A、1/3
B、1/4
C、1/2
D、3/4


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1.單項(xiàng)選擇題下列各項(xiàng)中不影響射線(xiàn)照片細(xì)節(jié)影像不清晰度的是()。

A、射線(xiàn)源尺寸
B、射線(xiàn)源到膠片距離
C、X射線(xiàn)能量
D、X射線(xiàn)強(qiáng)度

2.單項(xiàng)選擇題曝光過(guò)程中,試樣或膠片偶然移動(dòng)或使用焦距變?。ǎ?。

A、產(chǎn)生射線(xiàn)照相底片對(duì)比度低
B、不可能檢出大缺陷
C、產(chǎn)生射線(xiàn)照相底片不清晰
D、產(chǎn)生發(fā)灰的射線(xiàn)照片

3.單項(xiàng)選擇題未曝光膠片儲(chǔ)存的最佳濕度要求是()。

A、35%~-60%之間
B、60%~90%之間
C、50%~75%之間
D、50%~60%之間

4.單項(xiàng)選擇題膠片與鉛箔增感屏一起放在暗盒中的時(shí)間過(guò)長(zhǎng),又曾處在高溫或高濕環(huán)境中,膠片可能()。

A、產(chǎn)生白色斑點(diǎn)
B、出現(xiàn)樹(shù)枝狀的輕微條痕
C、發(fā)生灰霧
D、藥膜脫落

5.單項(xiàng)選擇題未曝光的X射線(xiàn)膠片盒保存時(shí)應(yīng)()。

A、平放
B、直立
C、堆放
D、任意放置

最新試題

渦流檢測(cè)線(xiàn)圈是在被檢測(cè)導(dǎo)電材料或零件表面及近表面激勵(lì)產(chǎn)生()

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

渦流檢測(cè)中的對(duì)比試樣的()和材質(zhì)相對(duì)被檢測(cè)產(chǎn)品必須具有代表性。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

渦流檢測(cè)線(xiàn)圈的自感式線(xiàn)圈由()構(gòu)成。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

當(dāng)波束中心線(xiàn)與缺陷面()且回波最()時(shí),移動(dòng)探頭使波束中心(),回波高度當(dāng)隨之下降。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

當(dāng)波束不再與缺陷相遇,則回波()

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

采用以()為橫坐標(biāo),以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線(xiàn)作成實(shí)用AVG曲線(xiàn)。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

缺陷愈大,所遮擋的聲束也愈多,底波波高也就愈低,這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來(lái)表示缺陷的()

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

鋁合金電導(dǎo)率的渦流檢測(cè)中硬度檢驗(yàn)是一種()方法。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

掃查方式一般視試件的()而定。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

渦流探傷中平底盲孔缺陷對(duì)于管壁的()具有較好的代表性,因此在在役管材的渦流檢測(cè)中較多采用。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題