單項(xiàng)選擇題底片黑度正常而襯度不夠的原因可能是()。

A、射線太硬
B、顯影不足
C、顯影液陳舊失效
D、以上都對(duì)


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1.單項(xiàng)選擇題放射性同位素源的半衰期取決于()。

A、源的強(qiáng)度
B、源的尺寸
C、源的使用時(shí)間
D、源的種類

2.單項(xiàng)選擇題()指的是同位素。

A、質(zhì)量數(shù)相同,中子數(shù)不同的元素
B、質(zhì)量數(shù)不同,中子數(shù)相同的元素
C、質(zhì)子數(shù)相同,中子數(shù)不同的元素
D、中子數(shù)相同,質(zhì)子數(shù)不同的元素

5.單項(xiàng)選擇題溴化鉀是()的一種。

A、抑制劑
B、顯影劑
C、加速劑
D、保護(hù)劑

最新試題

在聲束垂直試件表面時(shí),所獲得的()反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時(shí),如果聲束軸線移到缺陷邊緣,缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時(shí)波高的()

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

波束截面中心聲能(),隨著與中心的距離的增大,聲能()

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

當(dāng)波束中心線與缺陷面()且回波最()時(shí),移動(dòng)探頭使波束中心(),回波高度當(dāng)隨之下降。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展,出現(xiàn)了多種型號(hào)的同時(shí)具備探傷、電導(dǎo)率測(cè)量()測(cè)量功能的通用型儀器。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

渦流檢測(cè)儀的阻抗幅值型儀器在顯示終端僅給出()的相關(guān)信息。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束(),保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

渦流檢測(cè)輔助裝置的試樣傳動(dòng)裝置用于形狀規(guī)則產(chǎn)品的()

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

用于測(cè)量黑光強(qiáng)度的現(xiàn)代黑光輻射照度計(jì),其探頭(傳感器)的光敏組件的前面有(),只適用于測(cè)量黑光。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

渦流探傷中平底盲孔缺陷對(duì)于管壁的()具有較好的代表性,因此在在役管材的渦流檢測(cè)中較多采用。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題