當(dāng)波束不再與缺陷相遇，則回波（）

渦流檢測線圈是在被檢測導(dǎo)電材料或零件表面及近表面激勵產(chǎn)生（）

特性是指實體所特有的性質(zhì)，它反映子實體滿足需要的（）

在遠(yuǎn)場區(qū)，當(dāng)缺陷比聲束截面小時，缺陷波高與缺陷面積成（）

對于長條形試件，則常沿（）作平行縱軸的直線式掃查。

（）件對不同類型的檢測對象和要求，采用的方式各有不同。

采用以（）為橫坐標(biāo)，以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線作成實用AVG曲線。

缺陷愈大，所遮擋的聲束也愈多，底波波高也就愈低，這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的（）

直接射向缺陷的波就是（）

在聲束垂直試件表面時，所獲得的（）反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。