波長為λ的單色平行光垂直入射到薄膜上，已知n1>n3，如圖所示。則從薄膜上、下兩表面反射的光束①與②的光程差是：（）

在單縫夫瑯和費(fèi)衍射實(shí)驗(yàn)中，若將縫寬縮小一半，則原來第三級暗紋處將出現(xiàn)的條紋是：（）

使一光強(qiáng)為I0的平面偏振光先后通過兩個偏振片P1和P2，P1和P2的偏振化方向與原入射光光矢量振動方向的夾角分別是α和90°，則通過這兩個偏振片后的光強(qiáng)I是：（）

在雙縫干涉實(shí)驗(yàn)中，兩縫間距離為d，雙縫與屏幕之間的距離為（）

在邁克耳遜干涉儀的一條光路中，放入一折射率為n、厚度為d的透明薄片，放入后，這條光路的光程改變了多少？（）

如果兩個偏振片堆疊在一起，且偏振化方向之間夾角呈60°，假設(shè)二者對光無吸收，光強(qiáng)為I的自然光垂直入射在偏振片上，則出射光強(qiáng)為：（）

真空中波長為λ的單色光，在折射率為n的均勻透明媒質(zhì)中，從A點(diǎn)沿某一路徑傳播到B點(diǎn)。設(shè)路徑的長度為ι，A、B兩點(diǎn)光振動相位差記為△φ，則ι和△φ的值分別為：（）

用劈尖干涉法可檢測工件表面缺陷，當(dāng)波長為λ的單色平行光垂直入射時，若觀察到的干涉條紋如圖所示，每一條紋彎曲部分的頂點(diǎn)恰好與其左邊條紋的直線部分的連線相切，則工件表面與條紋彎曲處對應(yīng)的部分應(yīng)：（）

波長為λ的X射線，投射到晶體常數(shù)為d的晶體上，取k=0，2，3，…，出現(xiàn)X射線衍射加強(qiáng)的衍射角θ（衍射的X射線與晶面的夾角）滿足的公式為：（）

一單色平行光束垂直照射在寬度為1.0mm的單縫上，在縫后放一焦距為2.0m的會聚透鏡。已知位于透鏡焦平面處屏幕上的中央明條紋寬度為2.0mm，則入射光波長約為：（）