Cpk（穩(wěn)定過程的能力指數(shù)）

重要過程事件（如工具變更，機(jī)器修理等）須摘記于相應(yīng)之控制圖及/或直方圖上。

第Ⅰ類錯(cuò)誤

1924年，美國的品管大師休哈特（W.A.Shewhart）博士提出將3Sigma原理運(yùn)用于生產(chǎn)過程當(dāng)中，并發(fā)表了著名的“控制圖法”（亦稱為：Shewhart控制圖或3σ控制圖。即：一種以實(shí)際產(chǎn)品質(zhì)量特性與依過去經(jīng)驗(yàn)所分析的過程能力的控制界限比較，而以時(shí)間順序表示出來的圖形）。通過對(duì)過程變差進(jìn)行控制，為統(tǒng)計(jì)質(zhì)量管理奠定了理論和方法基礎(chǔ)。

Ppk（性能指數(shù)，即初期過程的性能指數(shù)）

變差

當(dāng)控制計(jì)劃要求對(duì)相關(guān)工序尺寸進(jìn)行SPC統(tǒng)計(jì)過程控制時(shí)，公司相關(guān)部門進(jìn)行圖控制并進(jìn)行過程能力研究。

P圖控制法適用于對(duì)所有的計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)做統(tǒng)計(jì)過程控制。

SPC

正確使用統(tǒng)計(jì)技術(shù)，能達(dá)到早期預(yù)防或及時(shí)提出矯正措施并得以及時(shí)改善的目的。