單項(xiàng)選擇題CSK-IB試塊將IIW試塊的φ50孔改為φ40、φ44、φ50臺階孔，其目的是方便用于（）
A.測定斜探頭折射角的正切（K值）
B.測定直探頭盲區(qū)范圍
C.測定橫波斜探頭的分辨力
D.以上全是
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1.單項(xiàng)選擇題用一臺時基線已準(zhǔn)確校正的超聲波儀器和斜探頭探測無切槽的IIW2試塊，斜探頭聲束朝向R25方向，若令第一次回波位于滿刻度為100的水平刻度25處，則圓弧面的第二次回波應(yīng)出現(xiàn)在水平刻度的（）
A.50
B.75
C.100
D.以上都不對
2.單項(xiàng)選擇題平底孔最常用作探測（）的參考反射體。
A.焊縫
B.薄板
C.管材
D.鍛鑄件
3.單項(xiàng)選擇題長橫孔最常用作探測（）的參考反射體。
A.焊縫
B.薄板
C.管材
D.鍛件
4.單項(xiàng)選擇題柱孔最常用作（）檢測的參考反射體。
A.蘭姆波
B.縱波
C.橫波
D.除B以外
5.單項(xiàng)選擇題在超聲波檢測中，最適宜以刻槽作為參考反射體探測（）
A.軋制板材中的分層
B.管材縱向裂紋
C.焊縫中的氣孔
D.鍛件的內(nèi)部夾雜物
最新試題
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
題型：單項(xiàng)選擇題
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
利用底波計算法校準(zhǔn)靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。
題型：單項(xiàng)選擇題
超聲波儀時基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時，在第一次底波之后，還有2個特定位置的反射波，這種波是（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
探頭延檢測面水平移動，超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
底波計算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
題型：單項(xiàng)選擇題