A.鋼瓶至減壓閥間的檢漏
B.氣化室密封圈的檢漏
C.氣源至色譜柱之間的檢漏
D.氣化室至檢測(cè)器出口間的檢漏
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A.物理干擾
B.化學(xué)干擾
C.光譜干擾
D.電離干擾及背景干擾
A.橋電流
B.載氣性質(zhì)
C.池體溫度
D.熱敏元件材料及性質(zhì)
A.都是在電磁射線作用下產(chǎn)生的吸收光譜
B.它們的譜帶半寬度都在10nm左右
C.都是核外層電子的躍遷
D.它們的波長(zhǎng)范圍均在近紫外到近紅外區(qū)[180nm~1000nm]
A.鉑電極
B.飽和甘汞電極
C.銀電極
D.pH玻璃電極
A.比色皿厚度
B.入射光波長(zhǎng)
C.有色物質(zhì)的濃度
D.溶液溫度
最新試題
在AAS測(cè)試中的化學(xué)干擾可通過(guò)化學(xué)分離,使用高溫火焰,加入釋放劑和保護(hù)劑,加入緩沖劑或基體改進(jìn)劑等方法來(lái)克服。
在AAS測(cè)試中的物理干擾可通過(guò)配制與試樣具有相似組成的標(biāo)準(zhǔn)溶液或標(biāo)準(zhǔn)加入法來(lái)克服。
軟電離離子化能量高,分子離子的碎片信息豐富,提供的分子官能團(tuán)等結(jié)構(gòu)信息。
分子內(nèi)各種官能團(tuán)的特征吸收峰只出現(xiàn)在紅外光波譜的一定范圍。
消除AAS測(cè)試中的電離干擾可采用適當(dāng)控制火焰溫度,加入消電離劑(主要為堿金屬元素)等來(lái)抑制待測(cè)原子的電離。
質(zhì)譜儀中真空系統(tǒng)的作用是使離子在真空狀態(tài)下從離子源到達(dá)檢測(cè)器。
在AAS測(cè)試中,石墨爐原子化時(shí),凈化溫度應(yīng)高于原子化溫度,凈化的時(shí)間為3~5s,目的是去除試樣殘留物,消除記憶效應(yīng)。
AAS的火焰原子化器具有穩(wěn)定性高、使用方便等優(yōu)點(diǎn)。但火焰原子化器的霧化效率較低,原子化效率也低;且基態(tài)原子蒸氣在火焰吸收區(qū)停留時(shí)間短,原子蒸氣在火焰中被大量氣體稀釋?zhuān)沟闷潇`敏度不高。
自然變寬是指無(wú)外界因素影響時(shí)譜線具有的寬度,該寬度比光譜儀本身產(chǎn)生的寬度要小得多,只有極高分辨率的儀器才能測(cè)出,故可忽略不計(jì)。
離子選擇性電極的校準(zhǔn)曲線的直線部分所對(duì)應(yīng)的離子活度范圍稱為離子選擇性電極的線性范圍。