單項選擇題A型脈沖反射式超聲檢測儀激勵探頭晶片發(fā)出的超聲波在工件中傳播遇缺陷或底面發(fā)生反射,被壓電晶片轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘?,?jīng)()放大和檢波,在顯示屏中顯示。

A.掃描電路
B.接收電路
C.同步電路
D.發(fā)射電路


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1.單項選擇題關(guān)于超聲檢測儀,說法錯誤的是()。

A.超聲檢測儀通過產(chǎn)生電振蕩并加于超聲波探頭上,激勵探頭晶片振動發(fā)射超聲波
B.超聲檢測儀可將探頭送回的電信號進行放大,通過一定形式顯示出來
C.超聲檢測儀可以得到被探測工件表面及內(nèi)部有無缺陷及缺陷位置和大小
D.超聲檢測儀是超聲檢測的主體設(shè)備

2.單項選擇題關(guān)于實用AVG曲線說法錯誤的是()。

A.用來描述距離、波幅和缺陷當(dāng)量之間的關(guān)系曲線
B.實用AVG曲線可以理論計算得到或者由通用AVG曲線得到
C.實用AVG曲線只適用于特定探頭
D.實用AVG曲線中要注明探頭的尺寸和頻率

3.單項選擇題關(guān)于通用AVG曲線說法錯誤的是()。

A.表示回波聲程、幅度(dB)和缺陷大小之間關(guān)系的曲線
B.用于缺陷定量和靈敏度調(diào)整
C.聲程以探頭的近場區(qū)為單位,缺陷以探頭的直徑為單位,幅值以始波高度為參考值
D.適用于全部聲程

5.單項選擇題長橫孔在聲場中孔徑增大1倍則回波聲壓變化是()。

A.增大12dB
B.增大9dB
C.增大6dB
D.增大3dB

最新試題

()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。

題型:單項選擇題

()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。

題型:單項選擇題

檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。

題型:單項選擇題

移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。

題型:單項選擇題

關(guān)于液浸法的優(yōu)點,說法錯誤的是()。

題型:單項選擇題

在對缺陷進行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。

題型:單項選擇題

縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時,在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。

題型:單項選擇題

當(dāng)縱波直探頭置于細長工件上時,在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。

題型:單項選擇題

底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。

題型:單項選擇題

()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

題型:單項選擇題