單項選擇題JB/T4730標(biāo)準規(guī)定,磁痕顯示分為()

A.相關(guān)顯示
B.非相關(guān)顯示
C.偽顯示
D.以上都是


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2.單項選擇題下列哪種方法有助于磁粉顯示的解釋()

A.使用放大鏡
B.復(fù)制顯示磁痕
C.在顯示形成過程中觀察顯示形成
D.以上都是

3.單項選擇題下列關(guān)于磁痕記錄的敘述中,正確的是()

A.現(xiàn)場記錄磁痕,如有可能應(yīng)采用復(fù)印法
B.磁痕復(fù)印應(yīng)在磁痕干燥后進行
C.用拍照法記錄磁痕時,須把量尺同時拍攝進去
D.以上都是

4.單項選擇題磁粉探傷的試件必須具備的條件是()

A.電阻小
B.探傷面能用肉眼觀察
C.探傷面必須光滑
D.試件必須有磁性

最新試題

一次完整的補焊過程中缺陷是否排除X光透照確認可以不限次數(shù),直至缺陷完全排除。

題型:判斷題

補焊次數(shù)的界定由工藝、檢驗負責(zé),對兩個補焊區(qū)交界部位補焊次數(shù)的界定,需要通過底片觀察提供幫助時,X光室應(yīng)予以配合。

題型:判斷題

底片或電子圖片、X射線照相檢驗記錄、射線檢測報告副本、檢測報告等及臺帳由X光透視人員負責(zé)管理。

題型:判斷題

缺陷分類應(yīng)符合驗收標(biāo)準的要求,標(biāo)準未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗范疇的缺陷,必要時可予以注明供有關(guān)人員參考,但不作為合格與否判定的依據(jù)。

題型:判斷題

X光檢驗組按復(fù)查清單組織復(fù)查,并出具X光底片復(fù)查報告,復(fù)查無遺留問題方可進行試壓。

題型:判斷題

X射線檢驗人員負責(zé)對需排除的超標(biāo)缺陷實施定位、做好相應(yīng)標(biāo)注,確保定位準確。

題型:判斷題

對焊接接頭穩(wěn)定時間有規(guī)定的產(chǎn)品,工藝規(guī)程應(yīng)作出規(guī)定,檢驗監(jiān)控確認,檢驗蓋章時穩(wěn)定時間不足者應(yīng)在申請單注明穩(wěn)定時間節(jié)點,否則X光室視為穩(wěn)定時間符合要求。

題型:判斷題

像質(zhì)計放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。

題型:判斷題

探傷人員在透視間內(nèi)發(fā)現(xiàn)輻射正在進行應(yīng)立即()。

題型:單項選擇題

在射線照相檢驗中,隨著射線能量的提高,得到的圖像不清晰度也將增大。

題型:判斷題