底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是（）

以下試塊中，能用于測定縱波直探頭分辨力的是（）

以下耦合劑中，可用于粗糙表面檢測的是（）

一個均勻的輻射光束強度為I0的射線，穿過一個厚度為X的物質(zhì)，其強度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）

射線照片上一個細節(jié)的影像是否能被眼睛識別出來，最主要的是決定于（）

影響較大的散射線通常來自（）

在工作中超聲波檢測儀屏幕上可能會出現(xiàn)（）等信號波，需要仔細判別。

某超聲波探頭，壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm，則該探頭工作頻率為（）

使用變型波檢測的一個優(yōu)點是（）

超聲波斜探頭的K值等于（）的正切值。