A.殘余電流
B.擴(kuò)散電流
C.電容電流
D.遷移電流
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A.極譜極大電流
B.遷移電流
C.殘余電流
D.殘留氧的還原電流
A.其大小與滴汞電位無關(guān)
B.其大小與被測(cè)離子的濃度有關(guān)
C.其大小主要與支持電解質(zhì)的濃度有關(guān)
D.其大小與滴汞的電位,滴汞的大小有關(guān)
A.通N2除溶液中的溶解氧
B.加入表面活性劑消除極譜極大
C.恒溫消除由于溫度變化產(chǎn)生的影響
D.在攪拌下進(jìn)行減小濃差極化的影響
A.線性掃描電壓,速度為200mV/min
B.線性掃描電壓,速度為200mV/s
C.線性掃描同時(shí)加上50~250Hz的方波電壓
D.線性掃描同時(shí)在每滴汞的后期加上一個(gè)4~80ms的方波電壓
A.示差脈沖是加一個(gè)等振幅的脈沖電壓,它扣除了直流電壓引起背景電流的影響
B.示差脈沖類似交流極譜,電容電流的影響較大
C.常規(guī)脈沖極譜,電容電流的影響較小
D.示差脈沖僅對(duì)常規(guī)脈沖的結(jié)果進(jìn)行了數(shù)學(xué)上的微分處理
最新試題
管式爐紅外線吸收法測(cè)定煤中硫含量,根據(jù)朗伯-比爾定律即可求出煤樣中的硫含量。
ICP光譜干擾包括()。
LZ50中氧氮含量的測(cè)定,分析儀器需要配備外循環(huán)冷卻水器或自來水源。
X射線熒光光譜分析中,分光晶體對(duì)溫度的變化比較敏感,一般要求晶體室溫度變化在()度內(nèi)。
紅外吸收碳硫儀中有高、低量程的紅外池,高量程的池體短,相應(yīng)紅外光程短。
脈沖加熱熔融熱導(dǎo)法測(cè)定鋼鐵中氫含量,分析前應(yīng)用有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行檢查和校準(zhǔn)儀器,所用實(shí)物標(biāo)準(zhǔn)的氫含量應(yīng)略大于被分析試樣的含氫量。
X射線熒光光譜玻璃熔片法采用的鉑金坩堝Pt與Au的比例一般是()。
ICP-AES法測(cè)量分析試樣時(shí),所選擇的光譜分析線是()。
電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀包括()。
ICP-AES法中檢出限高低取決于()。