A.探頭折射角和聲程
B.探頭反射角和聲程
C.缺陷水平方向投影
D.缺陷垂直方向投影
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A.脈沖寬度較寬
B.脈沖寬度較小
C.深度分辨力差
D.深度分辨力好
A.擴(kuò)散區(qū)
B.未擴(kuò)散區(qū)
C.遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)
D.近場(chǎng)區(qū)
A.短橫孔
B.切割槽
C.長(zhǎng)橫孔
D.V 形槽
A.略帶曲折波浪狀紅色細(xì)線條
B.鋸齒狀紅色細(xì)條線
C.直線狀紅色細(xì)線條
D.呈樹(shù)枝狀
A.顯影溫度18~20℃
B.定影溫度16~24℃
C.顯影時(shí)間4~6min
D.干燥溫度大于40℃
最新試題
在氣候潮濕地區(qū)或潮濕季節(jié),儀器長(zhǎng)期不用,應(yīng)做到(),以驅(qū)除潮氣,防止儀器內(nèi)部短路或擊穿。
滲透檢測(cè)時(shí),滲入的滲透液有一些被截留在缺陷內(nèi),將受檢部位置于合適的光源(發(fā)光強(qiáng)度足夠)下檢查時(shí),下列說(shuō)法正確的有()。
滲透檢測(cè)工藝對(duì)顯像操作的要求有()。
潤(rùn)濕是受檢表面附著的氣體被滲透液體所取代的現(xiàn)象,發(fā)生潤(rùn)濕時(shí)()。
用雙晶探頭檢測(cè)時(shí),為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度,檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭()。
探頭主聲束()將會(huì)影響對(duì)缺陷的定位和判別。
非熒光磁粉檢測(cè)時(shí),可見(jiàn)光照度不小于1000lx,并應(yīng)避免()。
超聲檢測(cè)時(shí)對(duì)工件無(wú)腐蝕的耦合劑是()。
超聲波檢測(cè)發(fā)現(xiàn)缺陷,在不同的方向上檢測(cè),缺陷回波呈現(xiàn)此起比伏互相彼連的狀態(tài),判定為()。
阻止?jié)B透液滲入及滲出表面開(kāi)口缺陷的固體污染物有()。