CSKⅠA試塊上R100和R50兩個階梯圓弧面可用來調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測范圍。

脈沖重復(fù)頻率的調(diào)節(jié)與被探工件厚度有關(guān)，對厚度大的工件，應(yīng)采用較低的重復(fù)頻率。

串列法探傷適用于檢測垂直于探測面的平面缺陷。

實際探傷中，為提高掃查速度，減少雜波的干擾，應(yīng)將探傷靈敏度適當(dāng)降低。

穿透法的最大優(yōu)點是不存在盲區(qū)，但小缺陷易漏檢。

脈沖反射法可對缺陷定性、定量和定位。

底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。

縱波直探頭法主要用于檢測與檢測面平行的缺陷。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點之一是可以測定斜探頭的分辨力。

目前使用最廣泛的超聲測厚儀是脈沖反射式測厚儀。