測定儀器垂直線性和動態(tài)范圍時，應將儀器的“抑制”和“深度補償”旋鈕置于關(guān)的位置。

雙晶直探頭傾角越大，交點離探測面距離愈遠，覆蓋區(qū)愈大。

橫波法主要用于檢測與檢測面成一定傾角的缺陷。

檢測面準備的目的是為了保證良好的聲耦合。

多探頭法是用兩個以上的探頭同時工作的檢測方法。

單探頭法是反射法，雙探頭法都是穿透法。

標準試塊的材質(zhì)應盡可能與被檢工件相同或相近。

串列法探傷適用于檢測垂直于探測面的平面缺陷。

利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍。

縱波斜探頭法的優(yōu)點是工件中既有縱波，又有橫波，因此可同時用縱波和橫波進行缺陷檢測。