檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展是推動(dòng)信息技術(shù)發(fā)展的基礎(chǔ)。

當(dāng)控制系統(tǒng)方案已經(jīng)確定，設(shè)備安裝完畢以后，控制系統(tǒng)的品質(zhì)指標(biāo)就主要取決于控制器參數(shù)的數(shù)值了。

點(diǎn)遷移的目的是使變送器的輸出信號(hào)下限值與測(cè)量信號(hào)的下限值相對(duì)應(yīng)。

衰減比等于兩個(gè)相鄰的同向波峰值之比。

積分控制規(guī)律稱(chēng)為無(wú)差控制規(guī)律。

測(cè)量變送環(huán)節(jié)的作用是將被控變量做正確測(cè)量，并將它轉(zhuǎn)換為統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)送給控制器或記錄顯示儀表。

DDZ-S型儀表均為智能式單元組合儀表儀表。

衰減比越大，過(guò)渡過(guò)程越接近單調(diào)過(guò)程，過(guò)渡過(guò)程時(shí)間較長(zhǎng)。

靜態(tài)前饋的控制目標(biāo)是，被控變量的最終的靜態(tài)偏差接近或等于零，而不考慮由于兩通道時(shí)間常數(shù)的不同而引起的動(dòng)態(tài)偏差。

副回路包含的干擾越多，副對(duì)象的時(shí)間滯后必然越大，從而會(huì)削弱副回路的快速、有力的控制特點(diǎn)。