VSP 測井是一種高分辨率的（）勘探技術(shù)。

電容法持水率計(jì)的現(xiàn)場刻度要求是什么？

簡述如何根據(jù)聲電成像測井確定現(xiàn)今地應(yīng)力的方向。

核磁共振測量結(jié)果幾乎不受（）影響。

簡述VSP 測井影響因素。

微電阻率成像三井徑曲線變化正常，除橢圓井眼外，在井眼規(guī)則處應(yīng)（）。

影響核磁共振測井的主要因素包括（）、孔隙流體及巖石的潤濕性和地層磁化率差異。

井壁微電阻率掃描成像儀器在均勻介質(zhì)中測量時(shí)，發(fā)自極板體的電扣電流和推靠器中心支架棒上的聚焦電流構(gòu)成的電流線總是相似的，與介質(zhì)的電阻率（）。

當(dāng)?shù)貙涌紫抖刃∮?5%時(shí)，孔隙度曲線重復(fù)測量值的絕對(duì)誤差小于（）。

（）古潛山是指一定地質(zhì)時(shí)期由褶皺作用形成的古山頭，潛山本身就是一個(gè)背斜。