單項(xiàng)選擇題由于干擾引起測(cè)井曲線的基線隨時(shí)間按一定的規(guī)律或無(wú)規(guī)律變化叫做（）。
A.相紙走斜
B.基線偏置
C.基線漂移
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1.單項(xiàng)選擇題對(duì)于碳酸鹽集層大部分情況下的條件是（）。
A.死孔隙發(fā)育
B.次生孔隙發(fā)育
C.原生孔隙發(fā)育
D.各種孔隙，裂縫均不發(fā)育
3.單項(xiàng)選擇題井溫曲線應(yīng)為（）曲線。
A.最后一次上測(cè)
B.任何一次下測(cè)
C.最后一次下測(cè)
D.第一次下測(cè)
4.填空題斷裂構(gòu)造分為（）和（）兩大類。
最新試題
核磁共振測(cè)量結(jié)果幾乎不受（）影響。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
水平井中氣水兩相流動(dòng)時(shí)的流型有哪些？
題型：?jiǎn)柎痤}
多極子陣列聲波測(cè)井的重復(fù)測(cè)井與主測(cè)井的波列特征應(yīng)相似，縱波時(shí)差重復(fù)曲線與主測(cè)井曲線形狀相同，重復(fù)測(cè)量值相對(duì)重復(fù)誤差應(yīng)小于（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
井壁微電阻率掃描成像儀器的電扣越小，分辨率（），井壁電阻率掃描圖像越清晰。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
多極子陣列聲波測(cè)井首波波至?xí)r間曲線變化形態(tài)應(yīng)（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
超聲波成像測(cè)井的影響因素為工作頻率、（）、測(cè)量距離、目的層的表面結(jié)構(gòu)、目的層的傾角和巖石的波阻抗差異。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
VSP 測(cè)井是一種高分辨率的（）勘探技術(shù)。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
微電阻率成像測(cè)井按井眼條件選擇扶正器，測(cè)井時(shí)極板壓力（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
微電阻率電成像反映地層特征（裂縫、溶洞、層界面等）清晰，與聲成像具有（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
電容法持水率計(jì)的現(xiàn)場(chǎng)刻度要求是什么？
題型：?jiǎn)柎痤}