A.射孔位置
B.腐蝕
C.變形
D.磨損
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A.射孔段
B.腐蝕
C.變形
D.磨損
A.套管變形
B.套管腐蝕
C.套管磨損
D.套管積蠟
A.最大井徑大于最小井徑
B.最大井徑小于最小井徑
C.最大井徑等于最小井徑
D.最大井徑不等于最小井徑
A.最大半徑小于套管標(biāo)稱半徑
B.最大半徑大于套管標(biāo)稱半徑
C.最小半徑小于套管標(biāo)稱半徑
D.最小半徑大于套管標(biāo)稱半徑
A.套管標(biāo)稱半徑小于最大半徑,最小半徑小于標(biāo)稱半徑
B.套管標(biāo)稱半徑小于最大半徑,而最小半徑大于標(biāo)稱半徑
C.套管標(biāo)稱半徑大于最大半徑,而最小半徑小于標(biāo)稱半徑
D.套管標(biāo)稱半徑大于最大半徑,而最小半徑大于標(biāo)稱半徑
最新試題
微電阻率成像測(cè)井按井眼條件選擇扶正器,測(cè)井時(shí)極板壓力()。
平移斷層斷層面一般較陡,可以是平直的,也可以是彎曲的。平移斷層在剖面上()。
微電阻率成像三井徑曲線變化正常,除橢圓井眼外,在井眼規(guī)則處應(yīng)()。
核磁共振弛豫包括()。
當(dāng)?shù)貙涌紫抖刃∮?5%時(shí),孔隙度曲線重復(fù)測(cè)量值的絕對(duì)誤差小于()。
泥漿濾液的侵入使孔隙流體發(fā)生了改變,當(dāng)濾液中含有順磁物質(zhì)時(shí)會(huì)()橫向弛豫時(shí)。
VSP 測(cè)井是一種高分辨率的()勘探技術(shù)。
核磁共振測(cè)井觀察的原子核具有選擇性,觀測(cè)地層流體中的()。
井壁微電阻率掃描成像儀極板和井壁的間隙增大會(huì)()儀器的垂向分辨率。
微電阻率電成像反映地層特征(裂縫、溶洞、層界面等)清晰,與聲成像具有()。