微電阻率成像測井無效（壞）電極數(shù)不應(yīng)超過（）。

簡述如何根據(jù)聲電成像測井確定現(xiàn)今地應(yīng)力的方向。

簡述VSP 測井影響因素。

超聲波成像測井的影響因素為工作頻率、（）、測量距離、目的層的表面結(jié)構(gòu)、目的層的傾角和巖石的波阻抗差異。

微電阻率成像三井徑曲線變化正常，除橢圓井眼外，在井眼規(guī)則處應(yīng)（）。

在（）的概念中，沉積環(huán)境和沉積巖特征的辯證關(guān)系是：沉積環(huán)境是形成沉積巖特征的決定因素，沉積巖特征則是沉積環(huán)境的物質(zhì)表現(xiàn)。

當(dāng)水體漸進(jìn)時(shí)，沉積范圍逐漸擴(kuò)大，較新沉積層覆蓋了較老沉積層，并向陸地?cái)U(kuò)展，與更老的地層侵蝕面成不整合接觸，在柱狀剖面上，表現(xiàn)為下粗上細(xì)特征，這種現(xiàn)象稱為（）。

核磁共振測井觀察的原子核具有選擇性，觀測地層流體中的（）。

微電阻率電成像反映地層特征（裂縫、溶洞、層界面等）清晰，與聲成像具有（）。

電容法持水率計(jì)的現(xiàn)場刻度要求是什么？