A.輸出總電荷量Q=Ne=eE/W
B.外電路的電流形狀有兩個平臺，一個高而短，一個低而長
C.電壓信號形狀與電子離子對產(chǎn)生位置無關(guān)
D.電流信號形狀與電子離子對產(chǎn)生位置有關(guān)
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.可以測量單個粒子的時間信息
B.不能夠測量單個粒子的能量信息
C.脈沖電離室只能輸出電壓信號，不能輸出電流信號和電荷信號
D.脈沖電離室的測量精度與復(fù)合、吸附、擴(kuò)散等物理過程無關(guān)
A.相鄰兩個信號的時間間隔服從泊松分布
B.原子核的衰變與帶電粒子在介質(zhì)中的碰撞都可看做是互相獨立的
C.法諾分布比泊松分布更好的符合輻射測量的實際情況
D.能量分辨率服從的是高斯分布
A.因為總實驗時間一定，所以就不要測量本底了
B.測量時間平分為兩半，一半測量本底，一半測量樣品與本底的和，測量的凈計數(shù)率誤差最小
C.若知道本底及樣品大致的計數(shù)率，可以分配測量時間：測量時間之比等于計數(shù)率之比
D.若本底計數(shù)率約為100/s，樣品計數(shù)率約為800/s，測量時間總共10min，則應(yīng)測量本底2.5min，測量樣品及本底7.5min
A.需要測量樣品+本底，及僅有本底的兩種情況，相減得凈計數(shù)
B.凈計數(shù)率的標(biāo)準(zhǔn)偏差為sqrt（Ns/ts2+Nb/tb2）
C.若兩次的測量時間ts=tb=t，則其對凈計數(shù)率的相對標(biāo)準(zhǔn)偏差沒有影響
D.若兩次的測量時間ts≠tb，則其對凈計數(shù)率的相對標(biāo)準(zhǔn)偏差沒有影響
A.設(shè)平均計數(shù)為N0，則t時間內(nèi)平均計數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)偏差為1/N0
B.平均計數(shù)N0可作為t時間內(nèi)計數(shù)值的數(shù)學(xué)期望的估計值
C.設(shè)平均計數(shù)為N0，則t時間內(nèi)平均計數(shù)的方差為N0/k
D.測量時間t不影響平均計數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)偏差
最新試題
對于（D，D）反應(yīng)和（D，T）反應(yīng)，下列描述正確的是（）。
下列關(guān)于符合曲線描述錯誤的是（）。
關(guān)于加速器中子源，描述錯誤的是（）。
下列對探測器本征探測效率沒有影響的是（）。
關(guān)于符合的描述，下列說法正確的是（）。
下列哪種中子的波長最短？（）
吸收和散射對探測器活度測量也有影響，下列說法錯誤的是（）。
下列對中子與原子核的反應(yīng)截面的描述不正確的是（）。
下列對中子慢化的描述正確的是（）。
關(guān)于延遲符合，下列描述錯誤的是（）。