A.符合事件指的是同時(shí)發(fā)生的兩個(gè)或多個(gè)事件
B.同時(shí)發(fā)生的兩個(gè)事件若沒(méi)有因果關(guān)系,不能算符合
C.同時(shí)指的是同一時(shí)刻,而不是一個(gè)時(shí)間段內(nèi),所以實(shí)際中的符合非常少見(jiàn)
D.符合可以用在粒子甄別上,但是反符合不行
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.坪斜修正可以降低工作電壓偏高對(duì)結(jié)果的影響
B.高Z材料會(huì)加強(qiáng)反散射效果,所以要用低Z材料做源托
C.β射線在介質(zhì)中的被吸收規(guī)律近似服從指數(shù)規(guī)律
D.β射線穿透力強(qiáng)于α粒子,故而不需要考慮源的自吸收問(wèn)題
A.不能用小立體角法測(cè)量
B.需要考慮軔致輻射效應(yīng)
C.需要考慮電子散射問(wèn)題
D.不需要真空的測(cè)量環(huán)境
A.不需要考慮源的自吸收
B.厚樣品在實(shí)際中很少見(jiàn)
C.樣品厚度達(dá)到一定值后,再增大其厚度,測(cè)量的活度基本不變
D.樣品不同位置薄層中的α粒子出射的概率是一樣的
A.探測(cè)腔室一般要抽真空
B.為提高探測(cè)效率,α源要盡可能貼近探測(cè)器
C.源發(fā)射α粒子是各向同性的
D.一般可以作為點(diǎn)源處理
A.由于吸收作用,探測(cè)器的窗對(duì)活度測(cè)量會(huì)有影響
B.α源與探測(cè)器間的空氣也會(huì)影響測(cè)量的活度結(jié)果
C.對(duì)于β射線的測(cè)量,散射情況一般需要考慮
D.由于反散射的影響,需要用高Z材料做β源托,降低反散射
最新試題
小立體角法是測(cè)量α源活度的手段之一,關(guān)于此方法的描述錯(cuò)誤的是()。
關(guān)于延遲符合,下列描述錯(cuò)誤的是()。
關(guān)于自發(fā)裂變中子源的描述正確的是()。
下列哪項(xiàng)不是中子探測(cè)的特點(diǎn)?()
下列對(duì)γ能譜的描述,錯(cuò)誤的是()。
改變下列哪項(xiàng)不會(huì)對(duì)活度探測(cè)產(chǎn)生明顯影響?()
下列對(duì)于常用的中子探測(cè)器的描述不正確的是()。
常見(jiàn)的241Am-9Be中子源中,9Be的作用是()。
軔致輻射對(duì)γ能譜的影響,描述錯(cuò)誤的是()。
關(guān)于24Na-9Be中子源的描述不正確的是()。