A.不受被檢試件幾何形狀、尺寸大小限制B.不需要特別昂貴和復雜的電子設備和器械C.檢驗速度快,可以明確顯示缺陷的深度及缺陷內(nèi)部形狀的大小D.一次操作可同時檢驗開口于表面上的所有缺陷
A.對母材無明顯的不利影響B.多采用對接接頭形式C.對熱源要求較低,工藝過程簡單D.接頭耐熱能力好
A.傳輸損耗小B.光纖可導光導電C.傳輸容量小D.損耗和帶寬不受環(huán)境溫度影響