A.S形
B.Z形
C.菱形
D.方形的
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A.縮小公差
B.減少偏離量
C.降低離散度
D.適當(dāng)加大公差
A.合理確定取樣間隔
B.合理確定子樣容量
C.子樣組數(shù)最好大于25
D.剔除不明原因的異常數(shù)據(jù)
A.強(qiáng)調(diào)統(tǒng)計(jì)分析
B.強(qiáng)調(diào)預(yù)防為主
C.強(qiáng)調(diào)全員參與
D.強(qiáng)調(diào)全檢
A.點(diǎn)子出界
B.環(huán)境改變
C.人員和設(shè)備均變動(dòng)
D.改變工藝參數(shù)或采用新工藝
E.更換供應(yīng)商或更換原材料、零部件
A.分析生產(chǎn)過程是否處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)
B.分析該過程的過程能力指數(shù)是否滿足要求
C.計(jì)算過程的不合格品率
D.計(jì)算過程的偏移系數(shù)
最新試題
重要過程事件(如工具變更,機(jī)器修理等)須摘記于相應(yīng)之控制圖及/或直方圖上。
Ppk用于批量生產(chǎn)時(shí)對(duì)過程能力分析,Cpk用于批產(chǎn)前對(duì)過程能力的分析。
在繪制控制圖時(shí),不管采取何種方法,均應(yīng)注意控制圖應(yīng)能顯示過程受控,否則不能計(jì)算過程能力。
過程(Process)
σ
PPM(質(zhì)量水準(zhǔn),即每百萬零件不合格數(shù))
特殊原因都是惡性的,都應(yīng)該進(jìn)行剔除。
Cpk(穩(wěn)定過程的能力指數(shù))
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