已知一元件壽命服從指數(shù)分布，平均壽命θ為100h，則其工作1小時(shí)可靠性是其工作100小時(shí)可靠性的多少倍（）

下圖為典型產(chǎn)品的故障率曲線，試說(shuō)明各階段的產(chǎn)品失效原因。

用上行法和下行法求最小割集時(shí)，可能得到不同的最小割集。

簡(jiǎn)要說(shuō)明老練與篩選的目的以及二者的異同。

一個(gè)機(jī)械電子系統(tǒng)包括一部雷達(dá)，一臺(tái)計(jì)算機(jī)，一個(gè)輔助設(shè)備，其壽命都服從指數(shù)分布。其MTBF分別為100小時(shí)，200小時(shí)和100小時(shí)，則系統(tǒng)的MTBF為（）

采用儲(chǔ)備模型可以提高產(chǎn)品的任務(wù)可靠性，但會(huì)降低其基本可靠性

可靠性試驗(yàn)可以分為工程試驗(yàn)和（）

對(duì)產(chǎn)品應(yīng)用抽樣方法檢驗(yàn)時(shí)，母體的合格率不達(dá)標(biāo)，子樣的合格率就必定不達(dá)標(biāo)

下列關(guān)于可維護(hù)性的陳述當(dāng)中哪一個(gè)是真實(shí)的（）

在嚴(yán)重度矩陣中以（）作為橫坐標(biāo)，以（）為縱坐標(biāo)。