應(yīng)力分析法適用于電子產(chǎn)品設(shè)計開發(fā)的（）

采用加速壽命試驗應(yīng)注意：（）和（）

下圖為典型產(chǎn)品的故障率曲線，試說明各階段的產(chǎn)品失效原因。

可靠性試驗可以分為工程試驗和（）

為了驗證開發(fā)的產(chǎn)品的可靠性是否與規(guī)定的可靠性要求一致，用具有代表性的產(chǎn)品在規(guī)定的條件下所做的試驗叫（）試驗。

設(shè)有一可修復(fù)的電子產(chǎn)品工作10000h，累計發(fā)生4次故障，則該產(chǎn)品的MTBF約為（）

已知某系統(tǒng)故障的故障樹如下圖所示，其元件MTBF均為2000小時，服從指數(shù)分布。1）求出最小割集；2）預(yù)計該系統(tǒng)工作100小時的可靠度。

在可靠性試驗中，老煉的目的在于消除產(chǎn)品參數(shù)漂移，而篩選的目的在于剔除早期失效產(chǎn)品。

一個機械電子系統(tǒng)包括一部雷達，一臺計算機，一個輔助設(shè)備，其壽命都服從指數(shù)分布。其MTBF分別為100小時，200小時和100小時，則系統(tǒng)的MTBF為（）

試論述可靠度含義，請解釋一下基本可靠性和任務(wù)可靠性。