某系統(tǒng)由三個(gè)電容器并聯(lián)而成，假定選定失效模式是電容短路，則系統(tǒng)的可靠性邏輯圖是串聯(lián)的。

工程中常用的失效分布類型有：（）、（）和（）

已知一元件壽命服從指數(shù)分布，平均壽命θ為100h，則其工作1小時(shí)可靠性是其工作100小時(shí)可靠性的多少倍（）

可靠性試驗(yàn)可以分為工程試驗(yàn)和（）

系統(tǒng)可靠性框圖如下所示：要求：1）畫出相應(yīng)的故障樹，寫出最小割集表達(dá)式；2）計(jì)算各底事件的結(jié)構(gòu)重要度并給出分析結(jié)論。

什么是失效？什么是失效模式？研究產(chǎn)品失效的方法主要有哪幾種？

四個(gè)壽命分布為指數(shù)分布的獨(dú)立單元構(gòu)成一個(gè)串聯(lián)系統(tǒng)，每個(gè)單元的MTBF分別為：300、500、250和150小時(shí)。若要求新系統(tǒng)的MTBF為10小時(shí)，試按比例將MTBF分至各單元，并計(jì)算新系統(tǒng)各單元工作10小時(shí)時(shí)的系統(tǒng)可靠度。

在故障樹分析中，設(shè)各底事件出現(xiàn)在其中的最小割集階數(shù)為α，在全部最小割集中出現(xiàn)的次數(shù)為n，該底事件重要程度為C，那么下面說法正確的是（）

一個(gè)機(jī)械電子系統(tǒng)包括一部雷達(dá)，一臺(tái)計(jì)算機(jī)，一個(gè)輔助設(shè)備，其壽命都服從指數(shù)分布。其MTBF分別為100小時(shí)，200小時(shí)和100小時(shí)，則系統(tǒng)的MTBF為（）

為了驗(yàn)證開發(fā)的產(chǎn)品的可靠性是否與規(guī)定的可靠性要求一致，用具有代表性的產(chǎn)品在規(guī)定的條件下所做的試驗(yàn)叫（）試驗(yàn)。