您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.試驗(yàn)條件
B.試驗(yàn)時(shí)間
C.樣品抽取
D.故障判別原則
E.試驗(yàn)數(shù)據(jù)處理
A.工藝試驗(yàn)
B.工程試驗(yàn)
C.統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)
D.可靠試驗(yàn)
E.隨機(jī)試驗(yàn)
A.不完整試驗(yàn)
B.完整試驗(yàn)
C.截尾試驗(yàn)
D.終止試驗(yàn)
E.開始試驗(yàn)
A.對(duì)于研制中的產(chǎn)品使達(dá)到規(guī)定的可靠性指標(biāo)
B.對(duì)于研制定型產(chǎn)品進(jìn)行可靠性鑒定
C.對(duì)于生產(chǎn)過程中的產(chǎn)品進(jìn)行質(zhì)量控制
D.對(duì)加工出的批量產(chǎn)品進(jìn)行帥選把關(guān)
E.對(duì)于產(chǎn)品出場(chǎng)時(shí)的規(guī)格進(jìn)行鑒定
A.可靠性增長試驗(yàn)的適用范圍
B.可靠性增長試驗(yàn)對(duì)受試產(chǎn)品的要求
C.可靠性增長試驗(yàn)的選擇
D.可靠性增長試驗(yàn)與可靠性增長試驗(yàn)與可靠性鑒定試驗(yàn)的關(guān)系
E.可靠性增長試驗(yàn)的隨機(jī)性
最新試題
一個(gè)機(jī)械電子系統(tǒng)包括一部雷達(dá)，一臺(tái)計(jì)算機(jī)，一個(gè)輔助設(shè)備，其壽命都服從指數(shù)分布。其MTBF分別為100小時(shí)，200小時(shí)和100小時(shí)，則系統(tǒng)的MTBF為（）
產(chǎn)品可靠性與（）無關(guān)。
抽樣的兩類風(fēng)險(xiǎn)分別是什么？
對(duì)產(chǎn)品應(yīng)用抽樣方法檢驗(yàn)時(shí)，母體的合格率不達(dá)標(biāo)，子樣的合格率就必定不達(dá)標(biāo)
設(shè)有一可修復(fù)的電子產(chǎn)品工作10000h，累計(jì)發(fā)生4次故障，則該產(chǎn)品的MTBF約為（）
系統(tǒng)可靠性框圖如下所示：要求：1）畫出相應(yīng)的故障樹，寫出最小割集表達(dá)式；2）計(jì)算各底事件的結(jié)構(gòu)重要度并給出分析結(jié)論。
采用加速壽命試驗(yàn)應(yīng)注意：（）和（）
采用儲(chǔ)備模型可以提高產(chǎn)品的任務(wù)可靠性，但會(huì)降低其基本可靠性
四個(gè)壽命分布為指數(shù)分布的獨(dú)立單元構(gòu)成一個(gè)串聯(lián)系統(tǒng)，每個(gè)單元的MTBF分別為：300、500、250和150小時(shí)。若要求新系統(tǒng)的MTBF為10小時(shí)，試按比例將MTBF分至各單元，并計(jì)算新系統(tǒng)各單元工作10小時(shí)時(shí)的系統(tǒng)可靠度。
什么是失效？什么是失效模式？研究產(chǎn)品失效的方法主要有哪幾種？