A.不完整試驗(yàn)
B.完整試驗(yàn)
C.截尾試驗(yàn)
D.終止試驗(yàn)
E.開始試驗(yàn)
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A.對(duì)于研制中的產(chǎn)品使達(dá)到規(guī)定的可靠性指標(biāo)
B.對(duì)于研制定型產(chǎn)品進(jìn)行可靠性鑒定
C.對(duì)于生產(chǎn)過程中的產(chǎn)品進(jìn)行質(zhì)量控制
D.對(duì)加工出的批量產(chǎn)品進(jìn)行帥選把關(guān)
E.對(duì)于產(chǎn)品出場(chǎng)時(shí)的規(guī)格進(jìn)行鑒定
A.可靠性增長試驗(yàn)的適用范圍
B.可靠性增長試驗(yàn)對(duì)受試產(chǎn)品的要求
C.可靠性增長試驗(yàn)的選擇
D.可靠性增長試驗(yàn)與可靠性增長試驗(yàn)與可靠性鑒定試驗(yàn)的關(guān)系
E.可靠性增長試驗(yàn)的隨機(jī)性
A.加速應(yīng)力的選擇
B.加速應(yīng)力水平和數(shù)目的選定
C.試驗(yàn)樣品的數(shù)目和選取
D.試驗(yàn)周期的確定
E.加速周期的選擇
A.篩選項(xiàng)目
B.帥選程序
C.帥選應(yīng)力
D.帥選方法
E.帥選剔除率
A.環(huán)境
B.目的
C.方法
D.過程特點(diǎn)
最新試題
某系統(tǒng)由三個(gè)電容器并聯(lián)而成，假定選定失效模式是電容短路，則系統(tǒng)的可靠性邏輯圖是串聯(lián)的。
對(duì)產(chǎn)品應(yīng)用抽樣方法檢驗(yàn)時(shí)，母體的合格率不達(dá)標(biāo)，子樣的合格率就必定不達(dá)標(biāo)
設(shè)有一可修復(fù)的電子產(chǎn)品工作10000h，累計(jì)發(fā)生4次故障，則該產(chǎn)品的MTBF約為（）
為了驗(yàn)證開發(fā)的產(chǎn)品的可靠性是否與規(guī)定的可靠性要求一致，用具有代表性的產(chǎn)品在規(guī)定的條件下所做的試驗(yàn)叫（）試驗(yàn)。
什么是基本可靠性模型？什么是任務(wù)可靠性模型？
已知一元件壽命服從指數(shù)分布，平均壽命θ為100h，則其工作1小時(shí)可靠性是其工作100小時(shí)可靠性的多少倍（）
采用儲(chǔ)備模型可以提高產(chǎn)品的任務(wù)可靠性，但會(huì)降低其基本可靠性
系統(tǒng)可靠性框圖如下所示：要求：1）畫出相應(yīng)的故障樹，寫出最小割集表達(dá)式；2）計(jì)算各底事件的結(jié)構(gòu)重要度并給出分析結(jié)論。
四個(gè)壽命分布為指數(shù)分布的獨(dú)立單元構(gòu)成一個(gè)串聯(lián)系統(tǒng)，每個(gè)單元的MTBF分別為：300、500、250和150小時(shí)。若要求新系統(tǒng)的MTBF為10小時(shí)，試按比例將MTBF分至各單元，并計(jì)算新系統(tǒng)各單元工作10小時(shí)時(shí)的系統(tǒng)可靠度。
一個(gè)機(jī)械電子系統(tǒng)包括一部雷達(dá)，一臺(tái)計(jì)算機(jī)，一個(gè)輔助設(shè)備，其壽命都服從指數(shù)分布。其MTBF分別為100小時(shí)，200小時(shí)和100小時(shí)，則系統(tǒng)的MTBF為（）