在故障樹分析中，設(shè)各底事件出現(xiàn)在其中的最小割集階數(shù)為α，在全部最小割集中出現(xiàn)的次數(shù)為n，該底事件重要程度為C，那么下面說法正確的是（）

系統(tǒng)可靠性框圖如下所示：要求：1）畫出相應(yīng)的故障樹，寫出最小割集表達(dá)式；2）計(jì)算各底事件的結(jié)構(gòu)重要度并給出分析結(jié)論。

用上行法和下行法求最小割集時(shí)，可能得到不同的最小割集。

采用加速壽命試驗(yàn)應(yīng)注意：（）和（）

下列失效率函數(shù)曲線中，屬于早期失效型的曲線為（）

故障樹分析是用一系列（）和轉(zhuǎn)移符號描述系統(tǒng)中各種事件之間的因果關(guān)系中各種事件之間的因果關(guān)系的。

已知一元件壽命服從指數(shù)分布，平均壽命θ為100h，則其工作1小時(shí)可靠性是其工作100小時(shí)可靠性的多少倍（）

下列關(guān)于可維護(hù)性的陳述當(dāng)中哪一個(gè)是真實(shí)的（）

我們之所以對產(chǎn)品進(jìn)行可靠性預(yù)判與分配，是因?yàn)楫a(chǎn)品的可靠性高低取決于其本身而不是論證。

應(yīng)力分析法適用于電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)開發(fā)的（）