一般認(rèn)為表面波探測(cè)的有效深度約為（）

以下耦合劑中，可用于粗糙表面檢測(cè)的是（）

調(diào)節(jié)掃描速度時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。

通常所謂20KV的X射線是指（）

底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是（）

在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)（r、R為簡(jiǎn)體的內(nèi)、外徑），斜探頭（β為折射角）的臨界角應(yīng)滿足（）

以下試塊中，能用于測(cè)定縱波直探頭分辨力的是（）

發(fā)生康普頓散射的條件是（）

某超聲波探頭，壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm，則該探頭工作頻率為（）

下列對(duì)耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述，不正確的一項(xiàng)是（）