以下試塊中，能用于測(cè)定縱波直探頭分辨力的是（）

超聲波斜探頭的K值等于（）的正切值。

探頭的分辨力（）

一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線，穿過(guò)一個(gè)厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）

對(duì)軸類(lèi)鋼制鍛件，用2.5P14的直探頭，在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時(shí)，該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于（）

原子是元素的具體存在，是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。

以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響（）

對(duì)于鉬靶X射線管，在管電壓低于（）千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線的。

以下耦合劑中，可用于粗糙表面檢測(cè)的是（）

底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是（）