在AAS測試中，石墨爐原子化時(shí)，凈化溫度應(yīng)高于原子化溫度，凈化的時(shí)間為3~5s，目的是去除試樣殘留物，消除記憶效應(yīng)。

在AAS測試中，石墨爐原子化時(shí)，灰化的的目的是去除基體，尤其是有機(jī)質(zhì)的去除。在不損失待測原子時(shí)，使用盡可能高的溫度和長的時(shí)間。

原子光譜不但反映原子或者離子的性質(zhì)，還能提供原子或離子來源的分子信息。

采用外標(biāo)法檢測樣品時(shí)，對進(jìn)樣量的準(zhǔn)確性沒有要求，不適用于大批量試樣的快速分析。

色譜流出曲線圖中的標(biāo)準(zhǔn)差是指正態(tài)色譜峰上兩拐點(diǎn)間距離的一半，其大小反映組分流出色譜柱的離散程度，標(biāo)準(zhǔn)差越大，色譜峰越寬。

自然變寬和同位素變寬是原子固有的性質(zhì)所引起，可設(shè)法消除。

消除AAS測試中的電離干擾可采用適當(dāng)控制火焰溫度，加入消電離劑（主要為堿金屬元素）等來抑制待測原子的電離。

氣-液氣相色譜分離試樣的過程是試樣中各組分在流動相與固定液上的分配和再分配的多次反復(fù)。

在AAS測試中，原子化條件的選擇對測定的靈敏度和準(zhǔn)確度無影響。

內(nèi)標(biāo)法進(jìn)行氣相色譜定量分析時(shí)，內(nèi)標(biāo)物的色譜峰必須與各個(gè)組分的色譜峰完全分離。