以下試塊中，能用于測定縱波直探頭分辨力的是（）

某超聲波探頭，壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm，則該探頭工作頻率為（）

底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是（）

物質(zhì)對輻射的吸收是隨什么而變（）

下列對耦合劑應(yīng)該具有的特點的描述，不正確的一項是（）

通常所謂20KV的X射線是指（）

底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是（）

一個均勻的輻射光束強度為I0的射線，穿過一個厚度為X的物質(zhì)，其強度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）

對于平行于檢測面的缺陷，一般采用（）檢測。

對于鉬靶X射線管，在管電壓低于（）千伏時是不會產(chǎn)生特征X射線的。