A.直接利用氫化反應(yīng)中產(chǎn)生的氫氣作為可燃?xì)怏w，不需外加燃?xì)?br />
B.原子化在含有惰性保護(hù)氣體的強(qiáng)還原性介質(zhì)中進(jìn)行
C.基態(tài)原子在測(cè)定區(qū)有效停留時(shí)間長(zhǎng)
D.消除了化學(xué)火焰中產(chǎn)生的待測(cè)組分與火焰組分間的相互作用
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A.干擾元素與待測(cè)元素的熒光譜線重疊
B.火焰的熱輻射
C.散熱光的干擾
D.ABC都對(duì)
A.光譜干擾
B.熒光猝滅干擾
C.化學(xué)干擾
D.電離干擾
A.減少散射光干擾主要減少散射微粒
B.選擇靈敏度高干擾小的直躍線熒光或階躍線熒光線進(jìn)行測(cè)定是消除散射光干擾最有效方法
C.當(dāng)散射光干擾嚴(yán)重時(shí)可用空白溶液測(cè)定分析線處的散射光強(qiáng)度予以校正
D.熒光猝滅干擾是指受輻射激發(fā)的原子與氣體分子發(fā)生碰撞所引起的熒光強(qiáng)度升高的現(xiàn)象
A.燈電流過大會(huì)影響檢出限和穩(wěn)定性
B.在滿足分析靈敏度條件下不宜設(shè)置過高負(fù)高壓
C.載氣流量過小火焰不穩(wěn)定測(cè)定重現(xiàn)性差
D.火焰自下而上是干燥區(qū)原子化器蒸發(fā)區(qū)電離化合區(qū)
A.光源原子化器檢測(cè)器三者處于直角狀態(tài)
B.更換元素?zé)魯嚅_電源
C.根據(jù)有無色散系統(tǒng)將分光系統(tǒng)分為色散型和非色散型兩類
D.非色散型分光系統(tǒng)不可做多元素同時(shí)測(cè)定
最新試題
離子選擇性電極的校準(zhǔn)曲線的直線部分所對(duì)應(yīng)的離子活度范圍稱為離子選擇性電極的線性范圍。
氣相色譜法中氣固色譜是遵循分配原理，而氣液色譜是遵循吸附原理。
在AAS測(cè)試中的化學(xué)干擾可通過化學(xué)分離，使用高溫火焰，加入釋放劑和保護(hù)劑，加入緩沖劑或基體改進(jìn)劑等方法來克服。
場(chǎng)致變寬是指在外加場(chǎng)或者帶電粒子形成的場(chǎng)作用下，電子能級(jí)進(jìn)一步發(fā)生分裂而導(dǎo)致的變寬效應(yīng)，在原子吸收分析中，場(chǎng)變寬不是主要變寬。
自然變寬和同位素變寬是原子固有的性質(zhì)所引起，可設(shè)法消除。
在AAS測(cè)試中的物理干擾可通過配制與試樣具有相似組成的標(biāo)準(zhǔn)溶液或標(biāo)準(zhǔn)加入法來克服。
內(nèi)標(biāo)法進(jìn)行氣相色譜定量分析時(shí)，內(nèi)標(biāo)物加入量可以隨意加入。
在AAS測(cè)試中，石墨爐原子化時(shí)，凈化溫度應(yīng)高于原子化溫度，凈化的時(shí)間為3~5s，目的是去除試樣殘留物，消除記憶效應(yīng)。
硬電離離子化能量低，試樣被電離后主要以分子離子為主，提供精確的相對(duì)分子質(zhì)量信息。
原子光譜不但反映原子或者離子的性質(zhì)，還能提供原子或離子來源的分子信息。