A.產(chǎn)品內(nèi)的變異是主要變異源
B.產(chǎn)品內(nèi)的變異和產(chǎn)品間變異幾乎相同
C.產(chǎn)品間的變異是主要變異源
D.時間變異是主要變異源
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A.過程能力足夠好,不需要改進(jìn)
B.減小過程標(biāo)準(zhǔn)差,同時調(diào)整過程均值至公差中心
C.減小過程標(biāo)準(zhǔn)差
D.調(diào)整過程均值至公差中心
A.繪制xbar-R控制圖需要20組以上的數(shù)據(jù),若當(dāng)收集10組數(shù)據(jù)后機(jī)器出現(xiàn)故障,則需等機(jī)器調(diào)試合格后重新采集20組以上數(shù)據(jù)
B.當(dāng)xbar-R控制圖出現(xiàn)失控,工程師應(yīng)該重新修改控制界限
C.xbar-R控制圖中有樣本點失控,則代表所抽取的樣本中有超規(guī)格的產(chǎn)品
D.xbar-R控制圖中沒有樣本點失控,則代表所抽取的樣本都在產(chǎn)品規(guī)格內(nèi)
A.獲得市場上的缺陷數(shù)據(jù)并追蹤改正措施
B.建立最佳流程參數(shù)組合
C.提前預(yù)防失效模式,降低風(fēng)險
D.針對過程和產(chǎn)品設(shè)計建立因果分析圖
A.標(biāo)準(zhǔn)差越大,西格瑪水平越高,缺陷率越低
B.標(biāo)準(zhǔn)差越大,西格瑪水平越高,缺陷率越高
C.標(biāo)準(zhǔn)差越大,西格瑪水平越低,缺陷率越低
D.標(biāo)準(zhǔn)差越大,西格瑪水平越低,缺陷率越高
A.F檢驗
B.雙樣本t檢驗
C.配對檢驗
D.雙樣本Z檢驗
最新試題
數(shù)據(jù)可分為定性數(shù)據(jù)和定量數(shù)據(jù),對/錯,通過/未通過之類的信息屬于()數(shù)據(jù)。
標(biāo)準(zhǔn)作業(yè)是采用最佳的(),并最好地利用人、機(jī)器、工具和材料去完成工作,然后發(fā)展標(biāo)準(zhǔn)工作流程讓所有人遵守。
因果關(guān)系矩陣不用于()
過程的波動分為隨機(jī)波動和異常波動,以下是隨機(jī)波動的有()
作業(yè)分析時提高動作經(jīng)濟(jì)性的方法包括()
快速換型中,可將作業(yè)分解為兩大類()
表示一組數(shù)據(jù)大小的指標(biāo)有()
下列關(guān)于改善后試運(yùn)行描述,正確的是()
在五臺機(jī)器中,按每臺機(jī)器產(chǎn)品的比例來抽樣,這種抽樣稱為()
下列激發(fā)創(chuàng)意的方法需要研究競爭對手才能找到證明有效的解決方案是()