二次波檢測是一種特殊的檢測工藝，以下關(guān)于二次波檢測的做敘述，哪一條是錯誤的（）

一般認(rèn)為表面波探測的有效深度約為（）

通常所謂20KV的X射線是指（）

某超聲波探頭，壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm，則該探頭工作頻率為（）

對于平行于檢測面的缺陷，一般采用（）檢測。

一個均勻的輻射光束強度為I0的射線，穿過一個厚度為X的物質(zhì)，其強度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）

當(dāng)射線穿透任何一物體時，部分被物體吸收，部分則穿透該物體，還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射，此散射為（）

光電效應(yīng)發(fā)生的機率隨什么變化（）

影響較大的散射線通常來自（）

最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線能量為（）